Імітаційне моделювання інформаційно-вимірювальних систем характеристик при-строїв мікросистемної техніки

Автор(и)

  • Дмитро Володимирович Тичков Черкаський державний технологічний університет
  • Ольга Станіславівна Басараб Черкаський державний технологічний університет

DOI:

https://doi.org/10.31649/mccs2022.23

Ключові слова:

інформаційно-вимірювальна система, MatLab Simulink, пристрій мікросистемної техніки, фізичні характеристики, імітаційне моделювання

Анотація

Доведена необхідність проведення імітаційного моделювання інформаційно-вимірювальних систем фізичних характеристик пристроїв мікросистемної техніки та показані особливості такого моделювання. Показано, що застосування методів математичного моделювання для пристроїв мікросистемної техніки не є коректним через невідповідність класичних фізичних законів для мікро- та нанорозмірних об‘єктів. При цьому встановлено, що саме застосування імітаційних моделей та сучасних комп‘ютерних засобів, які можуть якісно реалізувати ці методи, дозволяє провести високоякісне моделювання пристроїв мікросистемної техніки на якісно новому рівні в режимі реального часу. З‘ясовано, що перевагами таких імітаційних моделей (реалізованих на базі математичного процесору MatLab Simulink) є можливість урахування процесів та явищ, що мають місце на мікрометричному рівні (мікрокапілярні явища, поверхневий мікрострум та трибозаряд, екзодифузія електронів з поверхні, міжмолекулярна взаємодія тощо). В процесі проведеного моделювання, побудовані та досліджені імітаційні моделі інформаційно-вимірювальних систем різних фізичних характеристик (поверхневого заряду, мікронерівностей, мікротвердості, зносостійкості, градієнту температур), що можуть виникати на стаціонарних та динамічних поверхнях мікросистемних компонентів пристроїв. Проведена верифікація отриманих результатів моделювання показала високу їх збіжність з результатами експерименту (розбіжність між результатами моделювання та експериментально отриманими даними не перевищувала 8,5%), а також точність (відносна похибка при визначенні таких характеристик становила 4,5-11,2%) та надійність (ймовірність отримання адекватних результатів, не менше 0,996) отриманої моделі. Авторами запропоновано використовувати отримані внаслідок імітаційного моделювання результати при проєктуванні інформаційно-вимірювальних систем фізичних характеристик пристроїв мікросистемної техніки різного призначення.

Біографії авторів

Дмитро Володимирович Тичков , Черкаський державний технологічний університет

здобувач освітньо-наукового рівня доктора філософії кафедри приладобудування, мехатроніки та комп‘ютеризованих технологій

Ольга Станіславівна Басараб , Черкаський державний технологічний університет

здобувач освітнього рівня бакалавра кафедри приладобудування, мехатроніки та комп‘ютеризованих технологій

Посилання

Sotnik, S. & Lyashenko, V. & Shakurova, T.. (2021). Nano Devices and Microsystem Technologies: Brief Overview. International Journal of Engineering and Information Systems (IJEAIS). 5 (11). 74-82. http://www.ijeais.org/ijeais

Khan, Sanowar & Finkelstein, L.. (2011). Mathematical Modelling in Measurement and Instrumentation. Measurement and Control. 44. 277-282. 10.1177/002029401104400904.

N. Maluf, An Introduction to Microelectromechanical Systems Engineering. London, UK: Ar-tech House, 2004.

An Introduction to MEMS (Micro-electromechanical Systems). Loughborough, UK: PRIME Far-aday Partnership, 2002.

Shabana, A.A. Dynamics of Multibody Systems. Cambridge, England: Cambridge University Press.2003.

Il’kiv, V.s & Nytrebych, Zinovii & Pukach, Petro & Kohut, Ihor & Pakholok, B.. (2019). Analysis of measurement systems mathematical models by using the comparison of functions. Mathematical Modeling and Computing. 6. 268-275. 10.23939/mmc2019.02.268.

Tytarenko, V. & Tychkov, D. & Bilokin, S. & et al. (2020). Development of a simulation model of an information-measuring system of electrical characteristics of the functional coatings of elec-tronic devices. Intern. Scien. Journal “Mathematical modeling”. IV. 2. 68 – 71.

Bondarenko M.A. Necessity of creation of virtual laboratory of physical research of materials / M.A.Bondarenko // System analysis and information technologies SAIT 2011: thesis Intern. conf. of science and technology, (Kyiv, May 23-28, 2011). – Kyiv: ESC “IASA” NTUU “KPI”. – 2011. – P. 404.

Andriienko, O. & Bondarenko, M. & Antonyuk, V. “Automated system for controlling the characteristics of microsystem equipment devices”, in: 19 Intern. scientific-practical. Conf. “Quality, standardization, control: theory and practice” (Odesa, Sept. 9 – 13, 2019).

##submission.downloads##

Опубліковано

2022-12-13

Номер

Розділ

КУСС_Теоретичні основи контролю та управління